回收二手仪器回收吉时利2461

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上善若水，水善利万物而不争。
茶不过两种姿态，浮、沉；饮茶人不过两种姿势，拿起、放下。人生如茶，沉时坦然，浮时淡然，拿得起也需要放得下。

长期大量回收各种进口二手仪器仪表：
网络分析仪，频谱分析仪、信号发生器、数字示波器、高低频信号源、蓝牙测试仪、无线通信测试仪、数字万用表、电子负载、直流/交流电源、数据采集仪、色彩分析仪、频率计等各类仪器仪表。
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东莞市诺展电子仪器有限公司
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什么是源测量单元？
源测量单元 (SMU) 可同时精确采集和测量电压和/或电流。
至今为止，SMU 常在 IV 检定、测试半导体及非线性设备和材料等方面的测试应用中使用。执行这些测试时，会在 SMU 的任一 4 象限工作区域中进行电压扫描和/或电流扫描（正负直流/脉冲信号源或接收器与测量）。除了要求采集和测量必须高度同步外，这些测试

通常还需要高精度与高分辨率。

在需要集成独立电源、数字万用表 (DMM)、电流源和/或 电子负载的测试中使用 SMU 可以缩短设置时间、缩短软件开发时间、节省机架和工作台空间、提高吞吐量并在较大的功率选择范围内实现可靠且可重复的结果（5 ½ 和 6 ½ 位的分辨率）。

更大程度利用生产力技巧提高 DC I-V 检定效率的 6 个常用 DC 测试
概述使用 Keithley 工作台源测量单元、数字万用表和电源的 6 个常用测试，并介绍更大程度利用 Keithley 仪器性能的技巧。

半导体设备测试应用指南（2600A 系统系列 SourceMeter® 仪器）
半导体设备检定和测试的综合指南，包括二极管、BJT 和 FET。

四个关键测试：验证电源设计中的 MOSFET 性能
了解 4 个常用 MOSFET 测试的基本原理：漏电波形系列、门限电压、门电路漏电和跨导。
通过 2600B 系统系列 SourceMeter® SMU 仪器简化 FET 测试
本应用文章介绍如何使用 2600B 系统系列 SourceMeter SMU 与 TSP® Express 嵌入式软件工具，简化对 FET 的 I-V 测量。该软件工具利用两个通道采集和测量许多电压和电流。
使用 2600 系统系列 SourceMeter 仪器的二极管生产测试
在检查过程中执行单点通过/不通过二极管 DC 参数化测试、正向电压测试 (VF)、击穿电压测试 (VR) 和漏电测试 (IR)。
使用 2600 系统系列 SourceMeter® 仪器的 IDDQ 与待机电流测试
CMOS 集成电路和电池供电电子产品的制造商需要测量静态（待机）电流（又称为漏电或 IDDQ 测试）来长时间使用可能导致故障的短路氧化栅极和其他 IC 缺陷。
高亮度 LED 的高速测试
本应用文章提供基本电气检定测试信息并介绍如何使用 Keithley 的测试脚本处理器 (TSP®) 提高吞吐量优势并降低测试成本。
Keithley SourceMeter® 仪器非常适合这些类型的测试，因为这款仪器通过配置可以采集电压或电流并测量有限采样点上的电流或电压来证实优点。

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